2.3 Shoot through测试
测试的目的是看上MOS管导通时，有没有同时把下管打开，从而导致电源直接导通到地而引起短路。如图三所示蓝色曲线(Vgs_Lmos)就是下管在上管导通的同时，被带了起来，如果蓝色曲线的被带起来的尖峰超过了MOS管的Vth要求，同时持续时间(Duration)也超过了datasheet要求，从而就会有同时导通的风险。当然，这是大家常见到的情况。
下面这种情况有非常多的人会忽视，甚至是一些比较有经验的电源测试工程师。下面组图四是下管打开，上管关闭时候的波形(图4-1是示意图，图4-2示实际测试图)。虽然没有被同时带起的情况，但是请注意上下管有交叉的现象，而且交叉点的电平远高于MOS管规定的Vth值，这是个严重的shoot through现象。直接的后果就是MOS管烧毁！
2.4相位裕量和带宽(phase margin and bandwidth)
相位裕量和带宽是很多公司都没有测试的项目(尤其是规模较小的公司受限于仪器)，但是这却是个非常重要的测试项目。电源系统是否稳定，是否能长时间(3年或以上)有效工作，相位裕量和带宽可以在很大程度上说起了决定性的作用。很多公司完全依赖于电源芯片厂家给的参考设计方案里的推荐值，但是跟你的设计往往有不小的差异，这样会有很大的潜在风险。
如果系统是一个不稳定的系统，反映在一些电源测试项目里面，会看到以下几个主要问题。
●电源的Noise测试通过，但是电源依然不稳定。表现为功能测试fail.常常有工程师在debug时说我的电源noise已经很小了，加了很多电容了，为啥还是跑不动呢？其实是他的闭环系统本来就不稳定。
●Phase点jitter过大。这是比较典型的不稳定现象。
●瞬态响应(Transient response)太大。笨的办法就是加很多电容，去满足瞬态响应的要求。对于低成本产品，这可是要钱的啊。
如果你没有用正确的方法测试出系统的环路增益的波特图，那么你如何下手去调试这些项目让他通过测试呢？只有来来回回不停作实验。然后来来回回跑功能测试。Oh， my god，浩大的工作量。而且，对于一些低成本的产品，往往用到了铝电解电容，MLCC电容等低成本方案(电感，电阻值基本没有变化)。这些电容的容值会随着时间变化而减少。如MLCC，系统运行在正常温度两年~三年，容值会变到原来的一半。而这一半电容的变化，会对系统的稳定造成很大的影响，这也是为什么很多低价的产品质量不可靠的一个重要原因。那是不是说价格越高，用越多的电容就越好呢，当然不是。这就是为啥要测试phase margin的原因。你需要调试一组合理的值，能够同时覆盖全电容以及半电容的要求。这样同样能做到低价格高品质。
根据奈奎斯特定理对系统稳定性要求，规范要求一个闭环系统的相位裕量少为60度，45~60度可以考虑为低限额要求。对于带宽，200~500K的开关电源的要求在10%~30%的开关频率。从开关电源的稳定性看带宽越低，电源越容易稳定。从开关电源的动态指标看，带宽越高电源的动态性能越好。
